1 .首先是測試方法的選擇。理想的情況是器件在老化制程上花費的時間最少，這樣可以提高總體產(chǎn)量。惡劣的電性能條件有助于故障加速出現(xiàn)，因此能快速進行反復測試的系統(tǒng)可減少總體老化時間。每單位時間里內部節(jié)點切換次數(shù)越多，器件受到的考驗就越大，故障也就出現(xiàn)得更快。
2 .老化板互連性、PCB 設計以及偏置電路的復雜性。老化測試系統(tǒng)可能被有些人稱為高速測試，但是，如果機械連接或老化板本身特性會削弱信號質量，那么測試速度將會是一個問題。如像過多機電性連接會增大整個系統(tǒng)的總電容和電感、老化板設計不良會產(chǎn)生噪聲和串擾、而很差的引腳驅動器設計則會使快速信號沿所需的驅動電流大小受到限制等等，這些都僅是一部份影響速度的瓶頸，另外由于負載過大并存在阻抗、電路偏置以及保護組件值的選擇等也會使老化的性
能受到影響。
3 .計算機接口與數(shù)據(jù)采集方式。有些老化測試系統(tǒng)采用分區(qū)方法，一個數(shù)據(jù)采集主機控制多個老化板，另外有些系統(tǒng)則是單板式采集。從實際情況來看，單板式方法可以采集到更多數(shù)據(jù)，而且可能還具有更大的測試產(chǎn)量。
4 .對高速測試儀程序的下載及轉換能力。有些老化測試系統(tǒng)有自己的測試語言，對需要做100% 節(jié)點切換的被測器件不用再開發(fā)程序;而有些系統(tǒng)能夠把高速測試儀程序直接轉換到老化應用上，可以在老化過程中進行更準確的測試。
5 .系統(tǒng)提供參數(shù)測試的能力。如果老化測試系統(tǒng)能進行一些速度測試，那么還可得到其它一些相關失效數(shù)據(jù)以進行可靠性研究，這也有助于精簡老化后測試制程。
6 .根據(jù)時間動態(tài)改變測試參數(shù)的能力，如電壓與頻率。如果老化測試系統(tǒng)能夠實時改變參數(shù)，則可以加快通常屬于產(chǎn)品壽命后期階段故障的出現(xiàn)。對于某些器件結構，直流電壓偏置及動態(tài)信號的功率變動都可加速出現(xiàn)晚期壽命故障。
7 .計算機主機與測試系統(tǒng)之間的通訊。由于功能測試程序非常長，因此測試硬件的設計應盡可能提高速度。一些系統(tǒng)使用較慢的串行通訊，如RS -232C 或者類似協(xié)議，而另一些系統(tǒng)則使用雙向并行總線系統(tǒng)，大大提高了數(shù)據(jù)流通率。
